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Esclavage et résistances
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Ion bombardment, ultrasonic, and pulsed laser beam effects on small metallic clusters of potassium in MgO
Auteur(s)
:
Rankin, J.
Thevenard, P.
Romana, Laurence
Boatner, L.A.
White, C.W.
McHargue, C.J.
Horton, L.L.
Auteurs secondaires
:
Groupe de Technologie des Surfaces et Interfaces (GTSI) ; Université des Antilles et de la Guyane (UAG) - Université des Antilles (Pôle Guadeloupe) ; Université des Antilles (UA) - Université des Antilles (UA)
Éditeur(s)
:
HAL CCSD
Elsevier
Résumé
: International audience
ISSN: 0257-8972
hal-01685813
https://hal.univ-antilles.fr/hal-01685813
DOI : 10.1016/0257-8972(92)90284-H
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[PHYS] Physics [physics]
[SPI] Engineering Sciences [physics]
Formation of small metallic precipitates of niobium in α-Al2O3 implanted with niobium ions
Auteur(s)
:
Romana, Laurence
Thevenard, P.
Ramos, S.
Canut, B.
Gea, L.
Brunel, M.
Horton, L.L.
McHargue, C.J.
Auteurs secondaires
:
Université des Antilles (UA)
Groupe de Technologie des Surfaces et Interfaces (GTSI) ; Université des Antilles et de la Guyane (UAG) - Université des Antilles (Pôle Guadeloupe) ; Université des Antilles (UA) - Université des Antilles (UA)
Institut des Nanotechnologies de Lyon - Site de l'INSA (INL) ; École Centrale de Lyon (ECL) - Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL) - Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon) - Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Éditeur(s)
:
HAL CCSD
Elsevier
Résumé
: International audience
ISSN: 0257-8972
hal-01685814
https://hal.univ-antilles.fr/hal-01685814
DOI : 10.1016/0257-8972(92)90273-D
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Voir aussi
[PHYS] Physics [physics]
[SPI] Engineering Sciences [physics]
Microstructural characterization of iron ion implantation of silicon carbide
Auteur(s)
:
Horton, L.
Bentley, J.
Romana, L.
Perez, A.
McHargue, C.J.
Mccallum, J.C.
Auteurs secondaires
:
Université des Antilles (UA)
Groupe de Technologie des Surfaces et Interfaces (GTSI) ; Université des Antilles et de la Guyane (UAG) - Université des Antilles (Pôle Guadeloupe) ; Université des Antilles (UA) - Université des Antilles (UA)
Éditeur(s)
:
HAL CCSD
Elsevier
Résumé
: International audience
ISSN: 0168-583X
hal-01685815
https://hal.univ-antilles.fr/hal-01685815
DOI : 10.1016/0168-583X(92)95064-X
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[SHS.INFO] Humanities and Social Sciences/Library and information sciences
[SHS.EDU] Humanities and Social Sciences/Education
The effect of post-implantation annealing on the microstructure of Al2O3 implanted with iron at − 185°C
Auteur(s)
:
Sklad, P.S.
Romana, L.
McHargue, C.J.
White, C.W.
Mccallum, J.C.
Auteurs secondaires
:
Université des Antilles (UA)
Éditeur(s)
:
HAL CCSD
Elsevier
Résumé
: International audience
ISSN: 0168-583X
hal-01685817
https://hal.univ-antilles.fr/hal-01685817
DOI : 10.1016/0168-583X(91)95791-B
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Voir aussi
[SHS.INFO] Humanities and Social Sciences/Library and information sciences
[SHS.EDU] Humanities and Social Sciences/Education
Formation and annealing behavior of an amorphous layer induced by tin implantation into sapphire
Auteur(s)
:
Romana, Laurence
Sklad, P.S.
White, C.W.
Mccallum, J.C.
Choudhury, A.
Horton, L.L.
McHargue, C.J.
Auteurs secondaires
:
Groupe de Technologie des Surfaces et Interfaces (GTSI) ; Université des Antilles et de la Guyane (UAG) - Université des Antilles (Pôle Guadeloupe) ; Université des Antilles (UA) - Université des Antilles (UA)
Éditeur(s)
:
HAL CCSD
Elsevier
Résumé
: International audience
ISSN: 0257-8972
hal-01685811
https://hal.univ-antilles.fr/hal-01685811
DOI : 10.1016/0257-8972(92)90274-E
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Plus
Voir aussi
[SPI] Engineering Sciences [physics]
[PHYS] Physics [physics]
Ion-beam-enhanced adhesion of iron films to sapphire substrates
Auteur(s)
:
Pawel, J.E.
McHargue, C.J.
Romana, Laurence
Wert, J.J.
Auteurs secondaires
:
Groupe de Technologie des Surfaces et Interfaces (GTSI) ; Université des Antilles et de la Guyane (UAG) - Université des Antilles (Pôle Guadeloupe) ; Université des Antilles (UA) - Université des Antilles (UA)
Éditeur(s)
:
HAL CCSD
Elsevier
Résumé
: International audience
ISSN: 0257-8972
hal-01685807
https://hal.univ-antilles.fr/hal-01685807
DOI : 10.1016/0257-8972(92)90226-Z
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Voir aussi
[PHYS] Physics [physics]
[SPI] Engineering Sciences [physics]