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Tools for modeling radioactive contaminants in chip materials
Auteur(s) : Wrobel, F. Kaouache, A. Saigné, F. Touboul, A. d. Schrimpf, R. d. Warot, G. BRUGUIER, Olivier
Auteurs secondaires : Institut d’Electronique et des Systèmes (IES) ; Université de Montpellier (UM) - Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) Vanderbilt University, Nashville, Laboratoire Souterrain de Modane (LSM - UMR 6417) ; Institut National de Physique Nucléaire et de Physique des Particules du CNRS (IN2P3) - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA) - Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) Géosciences Montpellier ; Université des Antilles et de la Guyane (UAG) - Institut national des sciences de l'Univers (INSU - CNRS) - Université de Montpellier (UM) - Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) Dynamique de la Lithosphere ; Géosciences Montpellier ; Université des Antilles et de la Guyane (UAG) - Institut national des sciences de l'Univers (INSU - CNRS) - Université de Montpellier (UM) - Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) - Université des Antilles et de la Guyane (UAG) - Institut national des sciences de l'Univers (INSU - CNRS) - Université de Montpellier (UM) - Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) 		Partager

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